Partenaires

ICMPE

Partenaires

CNRS
Univ Paris 12
Univ Paris Est
Labex MMCD



Rechercher

Sur ce site

Sur le Web du CNRS


Accueil du site > Plateformes Technologiques > Microscopie Electronique > JEOL 2000EX

JEOL 2000EX

Microscope pour l’imagerie et les essai in-situ

MET JEOL 2000EX

Caractéristiques techniques

Spécificité : microscopie conventionnelle Source d’électron : émission thermoélectronique (W ou LaB6) Angle de tilt (+/-35°) Résolution ponctuelle 0.25 nmPièce polaire SHP20 Particularités Mode faisceau faible (weak beam) Analyse in-situ en température (porte-objet chauffant et système de vidéo numérique) Caméra CCD Gatan Erlangshen ES500 Très grande variété de porte-objets : Simple tilt Double tilt Tilt-Rotation Simple tilt chauffant double tilt refroidissant double tilt traction Pour toute demande (...)

Lire la suite