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Accueil du site > Plateformes Technologiques > Microscopie Electronique > Akashi 002B

Akashi 002B

MET Akashi 002B

Microscope haute resolution

Spécificité : haute résolution Source d’électron Emission thermique LaB6 Angle de tilt (+/-10°) Résolution ponctuelle 0.18 nm Particularités : Microscopie haute résolution Mode diffraction d’électron en faisceau convergent (CBED) Micro-analyse X : Détecteur EDX Si(Li) équipé d’un système EDAX Phoenix Camera CCD Keenview utilisant le logiciel iTEM (olympus) Pour toute demande contacter Eric LEROY (01.49.78.12.09) ou Julie BOURGON (01.56.70.30.25) Tel microscope : 01.49.78.11.89 Pour les personnes (...)

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