MET AKASHI 002B

SPECIFICITE : HAUTE RESOLUTION

  • Source d’électrons : émission thermique LaB6
  • Tension d’accélération: 200 kV
  • Angle de tilt (+/-10°) 
  • Résolution ponctuelle 0.18 nm

PARTICULARITES :

  • Microscopie haute résolution
  • Mode diffraction d’électron en faisceau convergent (CBED)
  • Micro-analyse X : Détecteur EDX Si(Li) équipé d’un système EDAX Phoenix
  • Camera CCD Keenview utilisant le logiciel iTEM (olympus)