MET AKASHI 002B
SPECIFICITE : HAUTE RESOLUTION
- Source d’électrons : émission thermique LaB6
- Tension d’accélération: 200 kV
- Angle de tilt (+/-10°)
- Résolution ponctuelle 0.18 nm
PARTICULARITES :
- Microscopie haute résolution
- Mode diffraction d’électron en faisceau convergent (CBED)
- Micro-analyse X : Détecteur EDX Si(Li) équipé d’un système EDAX Phoenix
- Camera CCD Keenview utilisant le logiciel iTEM (olympus)