La microsonde électronique ou sonde de Castaing fait partie des équipements de la plateforme Microscopies électroniques de l’ICMPE. Historiquement, elle est issue des appareillages communs des anciens laboratoires du centre de Meudon Bellevue.

Depuis 1998, date du déménagement du LCMTR de Bellevue vers le campus de Thiais, notre laboratoire sert de laboratoire d’accueil à cet appareil, à ce titre nous en assurons la maintenance ainsi que le support technique et scientifique. Les laboratoires signataires de la charte de utilisateurs ont accès à l’appareil selon les modalités de cette charte. Pour les autres EPST et pour les industriels désireux de faire des analyses, contactez Eric LEROY.

Les caractéristiques de cet appareil sont les suivantes :

  • Modèle : SX 100 CAMECA 
  • analyse en dispersion de longueur d’onde (WDS)
  • 3 spectromètres verticaux avec cristaux LPC1, LPC2, LPC3, LLiF, LPET et TAP.
  • 1 spectromètre incliné avec cristaux LiF, PET, TAP, PC2
  • 1 spectromètre EDS SDD permettant l’analyse couplée EDS-WDS
  • logiciel Peak Sight sur PC Windows © : c’est le nouveau logiciel de pilotage de la microsonde SX100 développé par CAMECA qui fonctionne sous environnement Windows. Le laboratoire a un contrat de béta test avec CAMECA et travaille en collaboration avec CAMECA pour la mise au point de ce nouveau logiciel avec comme nouvelles fonctionnalités entre autres :
    • cartographie X quantitative
    • analyse semi-quantitative WDS avec et sans témoins
    • analyse quantitative avec et sans témoins
    • interface utilisateur plus conviviale et enrichie par rapport à la version SUN
    • création de rapport de résultats directement dans Word et Excel
    • cartographie X
    • logiciel SX RAY 100 sur station SUN :
      • SXQUANTI : analyse quantitative Caméca avec correction PAP
      • SXQUALI : acquisition et traitement de spectres WDS et d’intensités élémentaires suivant une ligne. Identification automatique des pics avec marqueurs KLM
      • SXIMAGE : acquisition d’images vidéo et rayons X
      • SXVISIVIEW : logiciel de traitement des images acquise
      • MLAYER : logiciel de calcul de couches minces et de calcul de composition pour des échantillons multicouches.
      • PHASE ID : Identification, localisation et composition de phases en utilisant des diagrammes binaires et ternaires d’intensité de raies X.
      • PHASE CLASS : Programme permettant la cartographie de phases pour l’analyse d’échantillons complexes (nombre d’éléments et de phases indéfinis) à l’aide des images de raies X et des images en électrons rétrodiffusés (analyse modale rapide).
      • SAMPLE NAV : Logiciel de pilotage des échantillons.
      • PROFILE/OFF-LINE : Logiciel de reconstruction de profils.
      • IMAGE OVERLAY : Logiciel de superposition d’images.
      • MAPPING NFS : Logiciel de cartographies WDS pour échantillons de surfaces non planes.
    • Logiciel d’analyse de couches minces SamX :
      • STRATAGEM : logiciel de calcul et de simulation de couches minces utilisant les modèles PAP et XPP.

Documentation technique :

Les gammes de longueurs d’ondes couvertes par les cristaux sont les suivantes :

Le schéma synoptique de l’appareil est donné dans le document suivant :


Automatisation des analyses permettant un travail 7J/7J et 24h/24h.
Nous pouvons réaliser des dosages quantitatifs pour les éléments allant du bore à l’uranium sur des échantillons massifs ou multicouches.

Nous disposons d’une bibliothèque de plusieurs centaines standards nous permettant de couvrir la quasi-totalité des éléments de la classification périodique et des applications allant de la métallurgie à la géologie en passant par les céramiques et les semi-conducteurs.

Équipement annexe : évaporateur de carbone Cressington 208 Carbon