Caractérisation structurale (diffraction des Rayons X)

Notre parc instrumental nous permet d’étudier des matériaux polycristallins, sous forme de poudres, massifs ou couches minces, et monocristallins. Nos études cristallographiques vont de l’identification des phases présentes dans le matériau jusqu’à la résolution de structure sur poudre.

Le matériau est bombardé par un faisceau de rayons X monochromatiques de longueur d’onde connue, produit grâce à une anticathode de cuivre ou de cobalt. Le rayonnement émis est défini par un système de fentes et de fenêtres situées avant et après l’échantillon. Un détecteur mesure l’intensité du rayonnement X diffracté dans certaines directions. L’enregistrement réalisé est la courbe de l’intensité des rayons X diffractés en fonction des angles de diffraction (appelée diffractogramme).

Cette technique nous permet d’identifier et de quantifier des phases cristallines, de déterminer des structures cristallines sur poudre, d’observer in situ des transformations structurales et microstructurales en fonction de la température, de l’atmosphère, de la pression ou du potentiel électrochimique de l’échantillon.

Nous disposons à l’institut de :

• trois diffractomètres (poudres ou massifs) BRUKER θ-θ avec anode cuivre
  • D8 avec monochromateur arrière et scintillateur
  • D8 DA VINCI avec détecteur rapide LYNXEYE et passeur 9 échantillons
  • D8 avec détecteur rapide VANTEC et chambre en température ANTON PAAR TTK450 (-196°C à 450°C) sous atmosphère contrôlée

• 

• 

• 

• deux diffractomètres (poudres ou massifs) PANALYTICAL θ-θ avec anode cobalt
  • X’Pert PRO routine avec détecteur rapide PixCEL et passeur 15 échantillons
  • X’Pert PRO IN SITU avec détecteur rapide PixCEL et Chambre MRI TC radiation (de l’ambiante à 1400°C sous air ou vide secondaire) avec creuset céramique

• un diffractomètre Laue INEL avec anode de tungstème

• 

• 

• 

---

Contact

Olivier ROULEAU ou Loïc PERRIERE