Mots-clés

  • microscopie optique
  • microscopie électronique à balayage
  • microscopie électronique en transmission
  • microsonde électronique
  • micro-analyse
  • nano-analyse
  • EELS
  • EDS
  • EBSD
  • Tomographie

Responsable(s)

Membres

Activités scientifiques

La plateforme de microscopie est implantée dans trois bâtiments de l’ICMPE (C, D et F). Elle regroupe tous les moyens de microscopie électronique et optique de l’ICMPE.

Ceci comprend les appareillages suivants :

  • trois microscopes en transmission avec une salle de préparation d’échantillons contigüe, 
  • un microscope électronique à balayage, 
  • une microsonde de Castaing,
  • deux microscopes optiques.

 

Les équipements de la plateforme sont continument mis à jour afin de rester à la pointe :

Microscopie électronique en transmission

  • En 2019, deux porte-objets pour le MET Tecnai ont été acquis :
  • un porte-objet de traction (ANR GauGuIn)
  • un porte-objet multi-échantillons
  • En 2016, un nouveau système de microanalyse X a été installé sur le Tecnai F20 grâce aux Investissements recherche de l’UPEC. Ce système EDAX se compose d’un détecteur SDD Octane Optima 60 et du logiciel TEAM (Site EDAX)
  • Dans le cadre du contrat de plan Etat-Région 2006-2013 passé entre l’ICMPE, le CNRS et la région Ile de France, un grand nombre d’équipements ont été achetés pour la plateforme microscopie :
    • un système complet d’acquisition d’images en tomographie électronique a été acheté en 2010-2011. Nous pouvons acquérir des tomogrammes en mode TEM, EFTEM et STEM puis les reconstruire à l’aide des logiciels TomoJ de l’Institut Curie. Nous disposons d’un porte-objet de tomographie simple tilt cryo.
    • un porte-objet de cryo transfert étanche (unique en France !) permettant d’étudier des matériaux inflammables ou sensibles à l’air dans le microscope. En effet, nous disposons avec ce porte-objet et la boîte à gants dédiée d’un ensemble permettant de préparer un échantillon sous atmosphère d’argon et d’introduire ensuite cet échantillon dans le vide de la colonne du microscope sans qu’il ne soit en contact avec l’air.
    • un système de cartographie de diffraction électronique (ACOM) est installé depuis 2012. Il s’agit d’un système ASTAR de la société Nanomegas. Cette technique permet d’acquérir des cartographie d’orientation cristalline et de phases à des échelles pouvant descendre jusqu’au nanomètre. Il est accompagné d’un dispositif de précession permettant de réduire les effets dynamiques sur les clichés de diffraction.
    • une caméra CCD Erlangshen ES500 a été installée sur le JEOL 2000EX
    • un amincisseur ionique refroidi PIPS Gatan ainsi q’un plasma cleaner Solarus Gatan ont aussi été acquis.
  • en 2014, une caméra CCD Olympus Erlangshen a été installée sur le MET Akashi.

Microscopie à balayage

Le microscope à balayage Zeiss Merlin a été installé en 2013 dans le cadre du CPER 2006-2013.

Microsonde électronique

Un détecteur EDS SDD permettant l’analyse couplée WDS/EDS a été installé en 2011 dans le cadre du CPER 2006-2013.

Illustrations

MET Akashi
MET Akashi
MET Tecnai
MET Tecnai
MET JEOL 2000 EX
MET JEOL 2000 EX

Techniques disponibles

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